Cambridge University Press, UK, 1999. – 488 p. – ISBN: 0521652146 This self-contained, comprehensive book describes the fundamental properties of soft x-rays and extreme ultraviolet (EUV) radiation and discusses their applications in a wide variety of fields, including EUV lithography for semiconductor chip manufacture and soft x-ray biomicroscopy. The author begins by...
2nd Edition. — Cambridge University Press, 2017. — 655 p. — ISBN: 978-1-107-06289-4. With this fully updated second edition, readers will gain a detailed understanding of the physics and applications of modern X-ray and EUV radiation sources. Taking into account the most recent improvements in capabilities, coverage is expanded to include new chapters on free electron lasers...
1996. – 419 р.
This volume collects the proceedings of the 23rd International Course of Crystallography, entitled "X-rqy and Neutron Dynamical Diffraction, Theory and Applications. " which took place in the fascinating setting of Erice in Sicily, Italy It was run as a NATO Advanced Studies Institute with A. Authier (France) and S. Lagomarsino (Italy) as codirectors, and L. Riva...
New York: McGraw-Hill Book Company. – 1958. – 354 p. The powder method-the analysis of polycrystalline or powdered materials by passing x-rays through the sample and recording the resulting diagram is probably the most widely used application of x-ray diffraction, as well as one of the most modern and accurate means of analysis. This book contains a complete exposition of the...
Springer, 2014. - 318 pp. This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray...
2002. – 399 р.
This workshop on Local Structure from Diffraction was organized to bring together leading researchers studying local structure using diffraction techniques. Surprisingly, there are few opportunities for the powder and single crystal diffuse scattering communities to come together in one place and discuss their common goals of local structure determination. This...
Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2006. — 382 p. While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films. Very much an interdisciplinary field, chemists, biochemists, materials scientists,...
Taylor & Francis e-Library, 2005. - 278 р. The purpose of this book is to provide the theoretical and practical background necessary to the study of single-crystal materials by means of high resolution Xray diffractometry and topography. Introduction: Diffraction Studies of Crystal Perfection The response of a crystal to a plane wave Comparison of radiations for diffraction...
John Wiley & Sons, Ltd, 2014. — 356 p. — (Inorganic Materials Series) — ISBN: 1119953227 Inorganic materials show a diverse range of important properties that are desirable for many contemporary, real-world applications. Good examples include recyclable battery cathode materials for energy storage and transport, porous solids for capture and storage of gases and molecular...
Reading: Addison-Wesley Publishing, 1956. - 514 pp. Properties of X-rays The Geomery of Crystals Diffraction I: The Directions of Diffracted Beams Diffraction II: The Intensities of Diffracted Beams Laue Photographs Powder Photographs Diffractometer Measurements Orientation of Single Crystals The Structure of Polycrystalline Aggregates The Determination of Crystal Structure...
Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston, 2019. — The powder diffraction method was developed over a century ago; however, for the first 50 years, its use in science was limited, as it was viewed as information deficient. During data collection, the three-dimensional reciprocal space collapses onto the one-dimensional 2θ axis of the powder pattern, causing accidental and...
University Science Books, California, USA, 2016. — 493 p. — ISBN10: 1891389777. This is a well-balanced, thorough, and clearly written introduction to the subject. It features excellent illustrations and homework problems throughout, making it invaluable as a textbook. The book progresses in a logical and clear fashion from the fundamentals through to advanced topics, such as...
New York-London: Academic Press, 1982. - 515 p. A survey Method General theory Instrumentation. Experimental technique, slit collimation Instrumentation. Point collimation and synchrotron radiation Instrumentation. Data collection in X-ray small angle scattering Data treatnment Interpretation Contrast variation Experimental practice Application Proteins Nucleic acids and...
CRC Press, Taylor & Francis Group, 2019. — 278 p. — (Devices, Circuits, and Systems). — ISBN: 1498783619. This book explores novel methods for implementing X-ray diffraction technology as an imaging modality, which have been made possible through recent breakthroughs in detector technology, computational power, and data processing algorithms. The ability to perform fast,...
IGI Global, 2014. — X-ray line profile analysis is an effective and non-destructive method for the characterization of the microstructure in crystalline materials. Supporting research in the area of x-ray line profile analysis is necessary in promoting further developments in this field. X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science aims to synthesize the existing knowledge...
Wiley-ISTE, 2007. — 384 p.
This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science.
An historical background to the discovery of X-ray diffraction is first outlined. Next, Part 1 gives a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals. Part 2 then provides a detailed analysis of...
San Francisco and London: W. H. Freeman and Company, 1963. — 378 p. (Translated from second French edition by P. Lorrain and D. S.-M. Lorrain) Fundamentals of X-Ray Diffraction Theory General Theory of X-Ray Diffraction for An Arbitrary Structure X-Ray Diffraction from Amorphous Substances: Gases, Liquids, and Vitreous Solids Diffraction of X-Rays by Crystals Diffraction by...
Springer, 2024. — 297 p. This book provides readers a good overview of some of most recent advances in the field of hybrid pixelated detectors for X-ray imaging. Coverage includes both technology and applications, with an in-depth review of the research topics conducted at leading research institutions in the world. The conversion of the X-ray signal into an analogue/digital...
2nd Edition. — Hoboken, USA: John Wiley & Sons, Inc., 2018. — 482 p. — ISBN: 1119356105. An indispensable resource for researchers and students in materials science, chemistry, physics, and pharmaceuticals Written by one of the pioneers of 2D X-Ray Diffraction, this updated and expanded edition of the definitive text in the field provides comprehensive coverage of the...
Kodansha Ltd. and Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, 2005. – 507 p. – ISBN: 3540253173 More than thirty years have past since the publication of X-Ray Diffraction by Polymers by the authors (original edition in Japanese published by Maruzen, Tokyo, 1968, and English edition by Kodansha-Elsevier, Tokyo-Amsterdam, 1972). Since then, accelerated by the very rapid and the...
5th ed. - Springer, 2013. - 756 pp. Structure Determination by X-ray Crystallography has been received with acclaim by teachers, researchers and students of crystallography throughout the world since its first edition in 1977. The fifth edition is fully updated, and builds on past successes by presenting up-to-the-minute information on a variety of new topics. The new material...
Apple Academic Press, Inc., CRC, 2016 – 297 p. ISBN: 1771882980 This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of...
2nd Edition. — Science Press, 2011. — 449 p. — ISBN: 978-7-03-030812-2. FUNDAMENTALS OF X-RAY CRYSTALLOGRAPHY is the condensation and crystallization of the author's over 50 years of scientific research and teaching experience. In order to help readers to understand crystallography theory, to establish vivid three dimensional concepts of symmetry operations, simple geometry...
Oxford: Clarendon Press. – 2002. – 391 p. The topics of X-ray scattering and absorption feature in the training of chemists and physicists both because they have played a significant role in the development of the disciplines, and because the experimental tools are of great value in a myriad of fields of scientific work. It is the latter point that has proved persuasive with...
Berlin: De Gruyter, 2014 - 348 c.
This completely revised edition is a guide for practical work in X-ray analysis. Experimental developments e.g. brilliant X-ray sources, area detection, and developments in computer hardware and software have led to increasing applications in X-ray analysis. An introduction to basic crystallography moves quickly to a practical and experimental...
Princeton University, New Jersey, USA, 2017. — 367 p. — ISBN10: 0691139652. In this book, Carolyn A. MacDonald provides a comprehensive introduction to the physics of a wide range of x-ray applications, optics, and analysis tools. Theory is applied to practical considerations of optics and applications ranging from astronomy to medical imaging and materials analysis....
Taylor & Francis Group, LLC, 2017. — 578 p. — ISBN: 0849397723 While books on the medical applications of x-ray imaging exist, there is not one currently available that focuses on industrial applications. Full of color images that show clear spectrometry and rich with applications, X-Ray Imaging fills the need for a comprehensive work on modern industrial x-ray imaging. It...
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2013. — 554 p.
This book covers various applications in which diffraction techniques play a major role. These range from biochemistry to materials science, surface technologies to single crystal structure determination. This approach to the topic is almost unique since most books cover one specific application only.
The role of diffraction...
Cambridge: Cambridge International Science Publishing, 2007. — 259 p. The theory of the formation of characteristic and braking X-ray radiation is described. Special features of a number of sources of this radiation are discussed. Special attention is given to the interaction of X-ray radiation with matter (processes of absorption, scattering, refraction and reflection). The...
Cambridge University Press, Cambridge, UK, 2012. – 334 p. – ISBN10: 0521814014 The availability of synchrotron x-ray sources and the subsequent developments described in this book have led to substantial progress in our understanding of molecular ordering at liquid interfaces. This practical guide enables graduate students and researchers working in physics, chemistry, biology...
Taylor & Francis Group, LLC, CRC Press, Boca Raton, FL, USA, 2014. – 438 p. – ISBN: 9814303593 High-resolution x-ray diffraction and scattering is a key tool for structure analysis not only in bulk materials but also at surfaces and buried interfaces from the sub-nanometer range to micrometers. This book offers an overview of diffraction and scattering methods currently...
Springer, 1998. — 275 p.
In this, the only book available to combine both theoretical and practical aspects of x-ray diffraction, the authors emphasize a "hands on" approach through experiments and examples based on actual laboratory data.
Part I presents the basics of x-ray diffraction and explains its use in obtaining structural and chemical information.
In Part II, eight...
Oxford University Press, NY, USA, 2004. — 281 p. — (IUCr Monographs on Crystallography 16) — ISBN: 0198528582. Diffuse X-ray scattering is a rich (virtually untapped) source of local structural information over and above that obtained by conventional crystal structure determination (crystallography). The main aim in the book is to show how computer simulation of a model crystal...
Cambridge University Press, Cambridge, UK - 1997 - 414 p. This is a textbook for the senior undergraduate or graduate student beginning a serious study of X-ray crystallography. It will be of interest both to those intending to become professional crystallographers and to those physicists, chemists, biologists, geologists, metallurgists and others who will use it as a tool in...
Dover Publications, Inc., 1967. - 280 p.
The Nature of Crystals
The Symmetry of Crystals
Theory of X-Ray Diffraction in Ideal Crystals
X-Ray Interference in Real Crystals
Dyadics
Elements of Group Theory
Springer-Verlag, 1995. — 388 p. — ISBN: 1461395372. One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern...
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014. — 311 p. Authored by a university professor deeply involved in X-ray diffraction-related research, this textbook is based on his lectures given to graduate students for more than 20 years. It adopts a well-balanced approach, describing basic concepts and experimental techniques, which make X-ray diffraction an unsurpassed method for studying...
К.Г. Абдулвахидов, И.В. Мардасова, М.А. Витченко, М.А. Сирота, Б.К. Абдулвахидов, А.В. Солдатов, П.С. Пляка, Р.А. Захарян, П.И. Ивашкин. — М.: Российская академия наук, 2017. — 10 с. — ISBN: 978-5-906906-35-9. Описана компактная приставка к рентгеновскому дифрактометру типа ДРОН для изучения поведения моно- и поликристаллов при одноосном сжатии. Получены дифракционные профили,...
Петрозаводск: ПетрГУ, 2004. — 320 с. Изложен ряд вопросов физики рентгеновских лучей, включающих в себя современные достижения оптики мягкого рентгеновского излучения, рентгеновской микроскопии и голографии, а также анализ процессов, происходящих при взаимодействии рентгеновских лучей с веществом: фотоэлектрического поглощения и рассеяния. С точки зрения кинематической теории...
Москва: Мир, 1968. — 440 с. Книга написана известным бельгийским физиком С. Амелинксом, автором многочисленных работ по исследованию дислокаций, и посвящена физическим основам методов непосредственного наблюдения дислокаций. Подробно изложены методы избирательного травления, декорирования, рентгеновской дифракционной топографии и особенно просвечивающей электронной микроскопии....
Учебное пособие. — Минск: БГУ, 1979. — 136 с. Учебное пособие состоит из двух частей. В первой рассматриваются элементы классической кристаллографии, во второй, посвященной рентгеноструктурному анализу, элементы кинематической и динамической теорий рассеяния рентгеновских лучей и основанные на них методы исследования степени совершенства структуры кристаллов. По основным...
Учебное пособие. — Минск: БГУ, 1979. — 136 с. Учебное пособие состоит из двух частей. В первой рассматриваются элементы классической кристаллографии, во второй, посвященной рентгеноструктурному анализу, элементы кинематической и динамической теорий рассеяния рентгеновских лучей и основанные на них методы исследования степени совершенства структуры кристаллов. По основным...
Учебно-методическое пособие. — Волгоград: Волгоградский государственный технический университет, 2019. — 96 с. — ISBN: 978-5-9948-3323-0. Представлен теоретический материал и практические рекомендации по выполнению исследований с помощью рентгеновской дифрактометрии. Предназначено для студентов магистерской подготовки направления 220401. Введение. Пространственная решетка и...
Учебное пособие. — Москва: Изд-во Московского университета, 1983. — 288 с. В пособии систематизированы сведения, взятые из периодической литературы (по 1980-й год включительно), о принципах работы приборов, предназначенных для регистрации дифракционных картин, получаемых при рассеянии рентгеновских лучей монокристаллами, и измерения интегральных интенсивностей отражений. Каждый...
Учебное пособие. — Москва: Изд-во Московского университета, 1983. — 288 с. В пособии систематизированы сведения, взятые из периодической литературы (по 1980-й год включительно), о принципах работы приборов, предназначенных для регистрации дифракционных картин, получаемых при рассеянии рентгеновских лучей монокристаллами, и измерения интегральных интенсивностей отражений. Каждый...
М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1986. — 96 с. — (Проблемы науки и технического прогресса). Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых...
Москва: Металлургиздат, 1961. — 368 с. В книге описаны аппаратура, методика и ход рентгеноструктурного исследования металлов и сплавов, использование рентгеновских методов анализа для изучения тонкой внутризеренной структуры, внутренних напряжений, рекристаллизации, текстуры. Показано, как проводится рентгеновский фазовый анализ и анализ физико-термической обработки сталей....
Учебное пособие. — Куйбышев: Куйбышевский политехнический институт (КПтИ), 1981. — 90 с.: ил. Рассмотрена теория коллимационных искажений малоугловых рентгенограмм, а также описаны методы их учета. Подробно, разобраны методы определения размеров неоднородностей электронной плотности и средней разориентации блоков мозаики. Работа может быть полезна студентам и аспирантам...
М.: Государственное издательство технико-теоретической литературы , 1957. — 518 с. В предлагаемой книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике: рентгеноструктурного анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др. Кроме того, более...
М.: Государственное издательство технико-теоретической литературы , 1957. — 518 с. В предлагаемой книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике: рентгеноструктурного анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др. Кроме того, более...
М.: Издательство Московского университета, 1964. — 492 с. Рентгеноструктурный анализ принадлежит к числу физических методов исследования, наиболее прочно вошедших в химию и минералогию. Одна из основных задач структурного исследования — определение атомного строения кристаллов — представляет, несомненно, гораздо больший интерес для химиков и геохимиков, чем для физиков. Между...
Учебное пособие. — Москва: Издательство Московского университета, 1951. — 430 с. Предназначается в качестве учебного пособия для высших учебных заведений. Теория структуры кристаллов Е. С. Федорова. Рентгеновские лучи и кристаллы. 300 dpi, черно-белая.
Монография. — Переводчики И. Шульпина, Т. Аргунова. — М.: Наука, 2002. — 256 с. — ISBN 5-02-024963-7. В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно...
Монография. — М.: Наука, 2002. — 256 с. В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое...
Электронное учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, 2014. — 49 с.
В настоящем пособии изложены основные сведения об одном из основных в современной химической науке физическом методе исследования – рентгенографии. Рассмотрены физические основы метода, ключевые положения рентгенофазового и...
М.: Металлургия, 1977. — 240 с. Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление — электронно-зондовый...
Учебное пособие. — М.: МИСиС, 1995. — 47 с. Пособие включает в себя описание 4 лабораторных работ. Первые две работы выполняются с использованием дифрактометра: анализ профиля линии для суждения о структурном (внутризеренном) состоянии материала и определение текстуры. Обе работы предполагают не просто освоение принципов и техники расчета, но и выбор оптимальных условий...
Учебное пособие. — М.: МИСиС, 1995. — 47 с. Пособие включает в себя описание 4 лабораторных работ. Первые две работы выполняются с использованием дифрактометра: анализ профиля линии для суждения о структурном (внутризеренном) состоянии материала и определение текстуры. Обе работы предполагают не просто освоение принципов и техники расчета, но и выбор оптимальных условий...
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для...
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с.
Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку...
Учеб. пособие. — Харьков: НТУ "ХПИ", 2006. — 304 с. Пособие содержит основные сведения о дифракции рентгеновских лучей на кристаллах и применении методов структурного анализа для исследования остаточных макронапряжений в поверхностных слоях массивных материалов и тонких пленках. Излагается метод наклонных съемок (синус квадрат пси - метод) и его развитие для изучения...
М.: Мир, 1974. — 236 с. Книга представляет собой краткое введение в рентгеноструктурный анализ монокристаллов. По уровню и характеру изложения книга близка к монографии П. Уитли «Определение молекулярной структуры» («Мир», 1970). Несмотря на то, что книга написана весьма лаконично, она содержит практически все сведения, необходимые для понимания роли и возможностей...
Москва: Мир, 1974. — 236 с. Книга представляет собой краткое введение в рентгеноструктурный анализ монокристаллов. По уровню и характеру изложения книга близка к монографии П. Уитли «Определение молекулярной структуры» («Мир», 1970). Несмотря на то, что книга написана весьма лаконично, она содержит практически все сведения, необходимые для понимания роли и возможностей...
Ленинград; Москва: Государственное технико-теоретическое издание, 1932. — 397 с. Перевод с немецкого С.И.Френкель, про ред. проф. Н.Я.Селякова, и проф. Я.И. Френкель. Введение . Природа рентгеновских лучей и различные способы испытания материалов рентгеновскими лучами. Получение рентгеновских лучей . Технические рентгеновские трубки. Специальные трубки для испытания материалов....
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
2-е изд. — М.: Металлургия, 1970. — 366 с. Книга является учебным пособием по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В ней рассмотрена экспериментальная и расчетная методика решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии. В описании каждой работы имеются необходимые теоретические пояснения и изложен...
Учебное пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. — 328 с. В пособии описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных...
Учеб. метод. пособие. — Н. Новгород: ННГУ, 2007. — 59 с. Рассмотрены методы исследования элементного состава и структуры твердых тел, основанные на резерфордовском обратном рассеянии быстрых заряженных частиц и анализе ионно-индуцированного характеристического рентгеновского излучения. Кратко изложены физические явления, лежащие в основе указанных методов исследования, наиболее...
Учебно-методическое пособие. — Новосибирск: НГУ, 2012. — 62 с. В пособии освещены основные темы, связанные с современными методиками рентгеновской дифрактометрии моно-, поли- и нанокристаллических веществ. Пособие содержит следующие разделы: 1) способы генерации рентгеновских лучей; 2) получение дифракционной картины; 3) основные рентгенографические характеристики; 4)...
Навчальний посібник. — Суми: Сумський державний університет, 2019. — 135 с. У навчальному посібнику розглянуті основи геометричної кристалографії та питання пов’язані із фізикою рентгенівського випромінювання та практичними методами дослідження структури матеріалів за допомогою рентгенівської дифракції. Навчальний посібник рекомендується студентам і аспірантам електронних...
Монография. — Киев: Наукова думка, 1988. — 200 с. — ISBN 5-12-009296-9. В монографии изложены основы теории и результаты экспериментального исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей в монокристаллах, содержащих однородно распределенные дефекты, и обсуждены возможности использования этих результатов для создания новых высокоинформативных количественных методов...
Монография. — Киев: Наукова думка, 1988. — 200 с. — ISBN: 5-12-009296-9. В монографии изложены основы теории и результаты экспериментального исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей в монокристаллах, содержащих однородно распределенные дефекты, и обсуждены возможности использования этих результатов для создания новых высокоинформативных количественных методов...
Москва: Издательство иностранной литературы, 1950. — 572 с. Книга Р. Джеймса представляет собой фундаментальную монографию, посвященную вопросам диффракции рентгеновских лучей. В ней систематически изложены теоретические основы методов исследования кристаллических и аморфных твердых тел, жидкостей и газов с помощью рентгеновских лучей. Теоретические результаты всюду...
М.; Л.: Гостехиздат, 1940. — 446 с. Предисловие. Перечень важнейших обозначений. Введение. Кристаллографические основы структурного анализа. Основные понятия и формулы геометрической кристаллографии. Способы изображения кристаллов. Учение о симметрии кристаллов. Теория интерференции рентгеновских лучей, рассеиваемых материальными телами. Геометрия интерференции рентгеновских...
М.: Наука, 1980. — 255 с. Учебное пособие посвящено сжатому изложению на современном уровне широкого круга вопросов теории, методов, аппаратуры и ряда применений структурного анализа (СА) к исследованию атомной и магнитной структуры твёрдых тел. Одновременно с дифракционными методами СА впервые даётся изложение теории и практики резонансного СА, основанного на эффекте...
М.: Наука, 1980. — 255 с. Учебное пособие посвящено сжатому изложению на современном уровне широкого круга вопросов теории, методов, аппаратуры и ряда применений структурного анализа (СА) к исследованию атомной и магнитной структуры твёрдых тел. Одновременно с дифракционными методами СА впервые даётся изложение теории и практики резонансного СА, основанного на эффекте...
Монография. — М.: Недра, 1974. — 184 с. Изложены методы количественного рентгеновского фазового анализа и описаны современная аппаратура. Большое внимание уделено вопросам эксперимента, включая способы юстировки и контроля за работой дифрактометров, методам препарирования и измерения интенсивности дифракционных отражений. Рассматриваются примеры анализа разнообразных минеральных...
Монография. — М.: Недра, 1974. — 184 с. Изложены методы количественного рентгеновского фазового анализа и описаны современная аппаратура. Большое внимание уделено вопросам эксперимента, включая способы юстировки и контроля за работой дифрактометров, методам препарирования и измерения интенсивности дифракционных отражений. Рассматриваются примеры анализа разнообразных минеральных...
Москва: МИСиС, 2008. — 99 с. Конспект лекций по спецкурсу Физика металлов. Рентгеновская техника. Анализ субструктуры по ширине, профилю и интенсивности рентгеновских линий. Некоторые применения дифракционных методов исследования.
Учебное пособие. — М.: Издательский дом МИСиС, 2002. — 78 с. — (Московский институт стали и сплавов). В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое...
Учебное пособие. — М.: Издательский дом МИСиС, 2002. — 78 с. — (Московский институт стали и сплавов). В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое...
Л.: Энергоатомиздат, Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгеноспектрального, рентгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены...
Учебное пособие. — М.: МИФИ, 2007. — 60 с. Распознано Учебное пособие является дополненным и переработанным изданием учебного пособия «Рентгеновская дифрактометрия» (авт.: А.А. Русаков, Н.А. Соколов, В.Н. Яльцев), изданного в 1992 г. В пособии рассмотрены различные типы детекторов рентгеновских квантов, дифрактометры для поликристаллических и монокристаллических материалов с...
Учебное пособие. — М.: МИФИ, 2007. — 48 с. Распознано Учебное пособие «Рентгенографическое определение макронапряжений» по дисциплинам «Дифракционные методы исследования» и «Дифракционные методы в материаловедении» знакомит с общепринятой классификацией остаточных напряжений и с существующими методами их экспериментального определения. Основное внимание уделено рентгеновскому...
Москва: Изд-во Московского университета, 1986. — 240 с. В пособии представлены как классические методы рентгенографии (определение структуры и ориентировки кристаллов с помощью неподвижного , вращающегося и колеблющегося монокристалла, периодов элементарной ячейки и фазового состава по рентгенограммам поликристаллов), так и новые методики, позволяющие изучать структуру реальных...
Москва: Изд-во Московского университета, 1986. — 240 с. В пособии представлены как классические методы рентгенографии (определение структуры и ориентировки кристаллов с помощью неподвижного , вращающегося и колеблющегося монокристалла, периодов элементарной ячейки и фазового состава по рентгенограммам поликристаллов), так и новые методики, позволяющие изучать структуру реальных...
(практическое руководство). — М.: Машгиз, 1960. — 216 с. Изложены методы исследования внутренних напряжений в материалах и деталях и способы измерения размеров кристаллов. Приведен ряд практических примеров, облегчающих проведение ренгеноструктурного анализа в заводской лаборатории. Руководство предназначено для работников заводских лабораторий различного профиля и различной...
М.; Л.: Государственное издательство технико-теоретической литературы, 1950. — 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.
М.: ГИТТЛ, 1952. – 588 с. Книга является продолжением книги А.И. Китайгородского «Рентгеноструктурный анализ» (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа к исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, инженеров, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами,...
Учебное пособие. — Томск: Томский государственный архитектурно-строительный университет, 2012. — 276 с. + 8 л. цв. вкл. — ISBN: 978-5-93057-457-9. Учебное пособие посвящено описанию основ традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Целью авторов было совмещение в учебном пособии разумной фундаментальности и практических методов решения...
18 с. — Обзор подготовлен по материалам из отечественных и зарубежных журналов, а также на основе информации, полученной через Internet. Рассмотрен подход ведущих фирм при практической реализации цифровой маммографии и цифровой рентгенографии. Приведен перевод на русский язык статьи «Integrated digital radiography with a flat electronic detector», U. J.Neitzel («Medica Mundi»,...
Учебное пособие. — С-Пб.: СПбГУ, 2016. — 67 с. В настоящем пособии кратко изложены основы метода Ритвельда и его возможности, рекомендуемая последовательность уточнения параметров и методика работы с некоторыми из программ. Особое внимание уделено количественному фазовому анализу многофазных смесей, что важно для описания и количественной оценки как минералогических проб, так и...
Учебное пособие. — Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский университет, 2016. — 67 с. В пособии кратко даны основы и методические рекомендации по освоению метода Ритвельда и применения некоторых программ для уточнения кристаллической структуры минералов и химических соединений.
Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский государственный университет, 2007. — 112 с. В книге представлены основные принципы расшифровки и уточнения структур в программном комплексе SHELX. Данная книга является единственным издание на русском языке о программе SHELX.
Монография. — Киев: Наукова думка, 1983. — 408 с. В монографии изложена современная кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов в кристаллах, содержащих различного типа несовершенства: примесные атомы и другие точечные дефекты, группы дефектов, частицы новой фазы, дислокации и т.д. Проведен общий анализ дифракционных эффектов в неидеальных кристаллах....
Учебное пособие. — Москва: МИТХТ им. М.В. Ломоносова, 2005. — 90 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам...
Учебное пособие. — Москва: МИТХТ им. М.В. Ломоносова, 2006. — 88 с. Данное учебное пособие является дополнением к существующим учебникам по рентгенографическим методам исследования и отражает читаемый курс лекций для студентов 3 курса по дисциплине "Методы исследования фазового состава и структуры" (бакалавриат 071000 «Материаловедение и технология новых материалов») и курсам...
Учебное пособие. — Гродно: ГрГУ, 2003. В пособии рассмотрены элементы теории рентгеновских лучей, даны характеристики рентгеновских аппаратов, используемых для структурного анализа. Описаны особенности рентгеновских дифрактометров, методика юстировки гониометров, принципы анализа порошковых и монокристальных объектов. Рассмотрены алгоритмы рентгеновского фазового анализа....
Пер. с англ. Е.Н. Беловой и Г.П. Литвинской; Под ред. акад. Н.В. Белова. — М.: Мир, 1972. — 384 с.: ил. Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл — английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (ЛипсонГ., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956)....
Пер. с англ. Е.Н. Беловой и Г.П. Литвинской; Под ред. акад. Н.В. Белова. — М.: Мир, 1972. — 384 с.: ил. Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл — английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (ЛипсонГ., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956)....
Монография. — Новосибирск: Наука, 1989. — 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы....
Монография. — Кишинев: Штиинца, 1973. — 116 с. — (Институт прикладной физики, АН МССР). Изложены методы расшифровки кристаллов соединений, имеющих преимущественно один или несколько независимых тяжелых атомов в элементарной ячейке. Даны статистические методы определения центра симметрии, разновидности синтезов функции Патерсона, предложенные индийскими авторами,...
Монография. — Кишинев: Штиинца, 1973. — 116 с. — (Институт прикладной физики, АН МССР). Изложены методы расшифровки кристаллов соединений, имеющих преимущественно один или несколько независимых тяжелых атомов в элементарной ячейке. Даны статистические методы определения центра симметрии, разновидности синтезов функции Патерсона, предложенные индийскими авторами,...
Москва: Мир, 1975. — 256 с. Книгу известного английского ученого Г. Мильбурна можно рассматривать как введение в рентгеноструктурный анализ для тех, кто впервые знакомится с этим мощным и эффективным методом исследования пространственного строения различных химических соединений. Написанная почти в конспективном виде, она освещает ряд важных теоретических и практических...
М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1981. — 496 с. Приведены справочные данные и методические указания для индицирования рентгенограмм монокристаллов и поликристаллов различных веществ. Описаны методы индицирования лауэграмм прямой и обратной съемки, рентгенограмм вращения и других видов рентгенограмм монокристаллов. Приведены диаграммы для...
Москва: Энергоиздат, 1982. — 144 с. Посвящена теоретическим аспектам дифракции медленных (Е<100 эВ) электронов (ДМЭ) поверхностью металлов, полупроводников и изоляторов. В первой части дан систематический обзор различных теоретических методов описания ДМЭ чистой поверхностью. Обсуждаются и сопоставляются различные подходы от первого классического подхода Бете до современных...
Петрозаводск: НОЦ Плазма, 2003. — 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания...
Учебно-методическое пособие. — Казань: КазГУ, 2009. — 16 с. Учебно-методическое пособие предназначено для студентов четвертого курса, приступивших к изучению спецкурса «Физика поверхности и тонких пленок». Рассмотрены вопросы послойного исследования объектов с помощью рентгеноструктурного анализа. Кратко даны общие принципы реализации метода скользящих рентгеновских лучей,...
М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1982. — 392 с. Книга посвящена изложению динамического рассеяния рентгеновских лучей в идеальных кристаллах и кристаллах с постоянным градиентом деформации. Она является 2-м, переработанным и дополненным изданием книги «Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах» (М.: Наука, 1974). С возможной...
Плясова Л.М., Булавченко О.А., Кардаш Т.Ю., Кригер Т.А., Молина И.Ю., Цыбуля С.В., Черепанова С.В., Шмаков А.Н. — Новосибирск: Институт катализа СО РАН им. Г.К. Борескова, 2011. — 184 с. В книге изложены основы метода рентгенографии катализаторов в условиях повышенных температур и среды, моделирующих условия, в которых осуществляются процессы приготовления, активации и работы...
М.: Издательство Московского университета, 1960. — 632 с. Рентгеноструктурный анализ принадлежит к числу физических методов исследования, наиболее прочно вошедших в химию и минералогию. Одна из основных задач структурного исследования — определение атомного строения кристаллов — представляет, несомненно, гораздо больший интерес для химиков и геохимиков, чем для физиков. Между...
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с.
Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных...
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с.
Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных...
Электронное учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: ННГУ, 2012. — 89 с. В учебно-методическом пособии рассматриваются процессы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. Представлены теоретические основы кинематической теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах. Приведено описание рентгеновской схемы съемки Брэгга-Брентано. Приведены подробные...
Новосибирск: Институт катализа СО РАН, 2009. — 35 с. — (Наноструктурный анализ веществ и материалов). Краткий обзор основ теории и практики метода малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) позволяет получить навыки проведения научных анализов с использованием экспериментальных данных МУРР от реальных образцов наносистем и современных материалов с целью определения значений...
Екатеринбург: Уральский государственный технический университет−УПИ, 2004. — 107 с.
В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций....
Ленинград: Машиностроение, 1973. — 256 с. В книге рассмотрено устройство полуавтоматических и автоматических дифрактометров, разработанных и выпускаемых в Советском Союзе. Большое внимание уделено приборам, управляемым непосредственно вычислительными машинами, а также дифрактометрам, одновременно измеряющим многие отражения. Подробно изложены вопросы оптимизации...
М.: Физматгиз, 1963. — 380 с. — (Физико-математическая библиотека инженера). До недавнего времени единственным методом рентгенографических измерений был фотографический. В последние годы созданы новые приборы для рентгеноструктурных исследований - дифрактометры, в которых рентгеновскую пленку заменили счетчики квантов. Применение дифрактометров повышает точность,...
Учебное пособие. — Томск : Издательство Томского государственного университета, 2022. — 88 с. — ISBN 978-5-907572-78-2. Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении...
Учебно-методическое пособие. — Казань: КФ(П)У, 2010. — 76 с. В IV части пособия представлен справочный материал, необходимый при выполнении лабораторных работ в рамках спецкурса «Кристаллография и рентгеноструктурный анализ». Справочник краткий, так как необходимые понятия обсуждаются в соответствующих описаниях лабораторных работ. Термины, обозначения величин и используемые...
Учебно-методическое пособие для студентов физического факультета. — Изд. 2-ое, исправл. и допол. — Казань, 2009. — 64 с.: ил. Методическое пособие предназначено для студентов физического факультета при изучении курса кристаллографии и рентгеноструктурного анализа. Может быть рекомендовано для студентов геологического и химического факультетов, специализирующихся в области...
Казань: КФУ, 2013.— 36 с.: ил. Методическое пособие предназначено для студентов Института физики при изучении курса кристаллографии и рентгеноструктурного анализа. Может быть рекомендовано для студентов Институтов геологии и нефтегазовых технологий, фундаментальной медицины и биологии, экологии и географии и Химического института им. А.М.Бутлерова, специализирующихся в области...
Учебно-методическое пособие для студентов физического факультета. — Казань: 2009. — 72 с. Методическое пособие предназначено для студентов физического факультета при изучении курса кристаллографии и рентгеноструктурного анализа. Может быть рекомендовано для студентов физического, геологического и химического факультетов, специализирующихся в области физики конденсированных сред,...
Учебно-методическое пособие. — Новосибирск: Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 2012. — 32 с. В пособии содержатся материалы вводных лекций по рентгеноструктурному анализу. Кратко излагаются физические принципы дифракции рентгеновских лучей и методы интерпретации дифракционных данных в применении к решению задачи определения кристаллической структуры. Рассматриваются...
Учебно-методическое пособие. — Новосибирск: Новосибирский государственный университет, 2017. — 67 с. Содержит краткое описание основных принципов порошковой дифракции, экспериментального оборудования и современных дифрактометров. Описаны основные методики обработки и интерпретации данных: описание профиля линий, определение фазового состава по базе данных, уточнение параметров...
Учебно-методические материалы по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». — Нижний Новгород, 2007. — 194 с. Предлагаемые учебно-методические материалы предназначены для научных сотрудников, аспирантов и студентов физических специальностей, которые изучают рентгеновские методы исследования атомной структуры вещества и осваивают возможности их...
М.: Академия Наук СССР, 1961. — 367 с. + 20 с. Введение. Некоторые сведения о строении вещества. Строение кристаллов. Строение молекул, жидкостей и аморфных тел. Некоторые закономерности структурной химии. Основы теории рассеяния рентгеновских лучей. Рассеяние атомами. Рассеяние молекулами. Рассеяние кристаллами без учета интенсивностей.ю Методы исследования кристаллов....
Екатеринбург: ГОУ−ВПО УГТУ−УПИ, 2005. — 23 с. Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть,...
Монография. — М.: Наука, 1973. — 100 с. — (Башкирский филиал АН СССР). Рассмотрены некоторые вопросы теории диффузного рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами и методы анализа диффузных дифракционных эффектов. В теоретической части рассматривается диффузное рассеяние рентгеновских лучей в сплавах с неоднородностями типа зон Гинье—Престона, с частицами фазы выделения,...
Монография. — М.: Наука, 1973. — 100 с. — (Башкирский филиал АН СССР). Рассмотрены некоторые вопросы теории диффузного рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами и методы анализа диффузных дифракционных эффектов. В теоретической части рассматривается диффузное рассеяние рентгеновских лучей в сплавах с неоднородностями типа зон Гинье—Престона, с частицами фазы выделения,...
Комментарии