Ижевск: НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика",
2000. - 256с.
ГЛАВА
1. Введение
ГЛАВА
2. Химический состав поверхности
Применение объемных методов к исследованию поверхности
Специфические поверхностные методы
Фотоэлектронная спектроскопия
Оже-электронная спектроскопия (ОЭС)
Сканирующая Оже-микроскопия (СОМ)
Количественный анализ с помощью ОЭС и РФЭС
Вторично-ионная масс-спектроскопия (ВИМС)
Количественный анализ с помощью ВИМС
Сравнение ВИМС, Оже и РФЭС микроскопии
Послойное травление
Атомный зонд
Конкретный пример: NiСrА1+O
ГЛАВА
3. Структура поверхности
Объемные методы для структурного анализа
Поверхностные методы, использующие электроны
Электронная микроскопия медленных электронов (ЭММЭ)
Рентгеновская дифракция при скользящем падении лучей
Полевая ионная микроскопия (ПИМ)
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
Рассеяние ионов
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением
Поверхностная протяженная тонкая структура рентгеновских спектров поглощения (ППТСРСП — SEXAFS)
Теоретические расчеты кристаллографии поверхности
Некоторые примеры поверхностных структур
Адсорбаты
Резюме: состав и структура поверхности
ГЛАВА
4. Поверхностные свойства: движение электронов
Некоторые теоретические подходы
Контактный потенциал и работа выхода
Измерение работы выхода
Поверхностные состояния и искривление зон
Плазмоны
Спектроскопия одиночных атомов и СТМ
Оптические свойства поверхности
Электронный спиновый (парамагнитный) резонанс
Резюме
ГЛАВА
5. Поверхностные свойства: движение атомов
Поверхностная динамика решетки
Поверхностная диффузия
Поверхностное плавление
Резюме
ГЛАВА
6. Поверхностные свойства: адсорбция атомов и молекул
Немного термодинамики
Адсорбционные процессы
Теория хемосорбции
Экспериментальное наблюдение хемосорбции
Поверхностная сегрегация
Эпитаксиальные процессы
Молекулярно-лучевая эпитаксия (МЛЭ)
Резюме
Литература