Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Гусенко И.В. Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

  • Файл формата pdf
  • размером 551,97 КБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Гусенко И.В. Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии
Учебно-методическое пособие. - Ростов-н/Д.: ЮФУ, 2008. - 30 с.
В учебно-методическом пособии изучаются различные методы сканирующей зондовой микроскопии.
Рассматриваются физические основы методов и возможности применения конкретной методики к конкретному материалу. Рассмотрены достоинства и недостатки методов.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Борман В.Д. (ред.) Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • pdf
Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н. Учебное пособие. - М.: МИФИ, 2008. - 260 с. Распознано В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая...
  • 6,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

  • djvu
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Дедкова Е.Г., Чуприк А.А., Бобринецкий И.И., Неволин В.К. Приборы и методы зондовой микроскопии

  • pdf
М.: МФТИ, 2011. — 160 с. — ISBN: 978-5-8493-0218-8 Учебное пособие «Приборы и методы зондовой микроскопии» содержит подробное описание зондовых микроскопов, их принципов работы и применениям в изучении объектов нанотехнологий. Отдельные разделы пособия посвящены сканирующей туннельной, атомно- силовой и оптической ближнепольной микроскопии. Особое внимание в пособии уделено...
  • 3,32 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  • djvu
М.: Техносфера, 2005. — 144 с. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),...
  • 7,37 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Мошников В.А. (ред.) Диагностика материалов методами сканирующей зондовой микроскопии

  • pdf
Учебное пособие. СПб.:Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2012. 172 с. ISBN: 978-5-7629-1243-3 Авторы: О.А. Александрова, П.А. Алексеев, И.Е. Кононова, А.И. Максимов, Е.В. Мараева, В.А. Мошников, Е.Н. Муратова, С.С. Налимова, Н.В. Пермяков, Ю.М. Спивак, А.Н. Титков Содержит систематизированные и оформленные в виде лабораторных работ оригинальные методики сканирующей зондовой микроскопии,...
  • 5,73 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Наверх