Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

  • Файл формата pdf
  • размером 913,87 КБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии
Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с.
Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии.
Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», специальностям «Физика твердого тела», «Физика», «Медицинская физика», «Материалы и компоненты твердотельной электроники», «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы», "Микроэлектроника и твердотельная электроника», «Нанотехнологии в электронике".
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация