Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Мошников В.А., Спивак Ю.М. Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики

  • Файл формата pdf
  • размером 3,24 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Мошников В.А., Спивак Ю.М. Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики
Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике
Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнология"
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация