Цыбуля С.В., Черепанова С.В. Введение в структурный анализ нанокристаллов. Учебное пособие

Новосибирск: НГУ, 2008. — 92 с.В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для 1D и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся по специализации «Физические методы исследования твердого тела», а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.