Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела
Файл формата
djvu
размером 7,58 МБ
Добавлен пользователем tolyan2010, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности. Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов. Пособие подготовлено в рамках Инновационной образовательной программы.
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
Учебное пособие. - Харьков: ХНУ им. В. Н. Каразина, 2009. - 209 с. - Для студентов, аспирантов и научных работников. В учебном пособии приведена классификация наноразмерных структур, проанализированы их свойства. Обобщены сведения о проявлении размерных эффектов в физических, механических, термических и других свойствах наноструктурных материалов. Рассмотрены основные методы...
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
М. : 2007, 125 с.
Рассмотрены история развития представлений о наноматериалах и нанотехнологиях, современное состояние и перспективы развития. Дан обзор основ классификации наноматериалов и типов их структур, а также особенности свойств и основные направления использования наноматериалов. Дан подробный обзор основных технологий получения наноматериалов (нанопрошки, объемные...
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
М.: КомКнига, 2006. — 592 с. — (Синергетика: от прошлого к будущему). — ISBN 5-484-00243-5. Книга освещает круг вопросов, которые могут составить область науки о нанообъектах, процессах и явлениях, проходящих на уровне размеров 1-100 нм. В этой области наблюдаются эффекты, чувствительные как к отдельным атомно-молекулярным уровням энергии, так и к коллективным свойствам тел....