Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • Файл формата djvu
  • размером 7,58 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов позволяет проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности.
Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
Пособие подготовлено в рамках Инновационной образовательной программы.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация